光谱测金仪

发射光谱分析（AES）光谱测金仪：原子发射光谱法是测定高纯金属或半导体材料中痕量杂质的主要分析方法之一，常采用预富集与 AES 测定联用技术，可同时检测多元素，提高检测灵敏度。

原子吸收型光谱测金仪：运用火焰法 - 氢化法联用原子荧光光谱仪，可进行金、银、铜等 17 种元素的痕量分析。

X 荧光光谱型测金仪：由高能 X 射线激发原子电子层，使原子核外电子发生跃迁，释放二次 X 射线，探测系统测量其能量和数量，从而计算元素含量。

产品特点

• 整机结构经过优化设计，用料扎实，长时间连续运行稳定可靠；
• 关键部件选用知名品牌，控制精度高、响应快、使用寿命长；
• 可依据 GB / IEC / ISO / JIS 等相关标准开展试验，支持非标定制；
• 具备完善的安全保护与故障提示，操作维护简便；
• 出厂前逐台检测调试，随机附完整技术资料与合格证明。

适用行业

广泛应用于电子电器、新能源电池、汽车零部件、五金塑胶、航空航天、科研院所及第三方检测机构等领域的可靠性验证与质量管控。

服务支持

科讯仪器提供选型咨询、方案设计、安装调试、操作培训与长期售后维护的一站式服务，并可根据客户测试标准提供定制化解决方案。如需详细技术参数与报价，欢迎联系我们。